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納米粒度電位儀
在線粒度分析儀
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熔樣機
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顆粒圖像分析儀
多檢測器凝膠色譜系統
其它工業過程控制
分子相互作用儀
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馬爾文帕納科臺式XRF能譜儀一體機Epsilon 1 是一款集成型能量色散型 XRF 分析器,其包括光譜儀、內置計算機、觸摸屏和分析軟件。 Epsilon 1 采用激發和檢測技術的新成果,是低成本小型...
馬爾文帕納科納米粒度電位儀Zetasizer Ultra 是用于測量顆粒與分子大小、顆粒電荷和顆粒濃度的系統,在結合了 Zetasizer Pro 和 Lab 所有特性和優點的基礎上,增加了多角度動態...
Zetasizer Pro馬爾文帕納科納米粒度電位儀是一款功能強大、用途廣泛的常規實驗室測量解決方案,可測量顆粒粒度、分子大小、電泳遷移率、Zeta 電位和分子量。 與以往型號相比,其粒度測量速度超過...
納米粒度儀即使作為入門級納米粒度及Zeta電位分析儀,Zetasizer Lab 的功能也不容小覷。 馬爾文帕納科納米粒度電位儀Zetasizer Lab 采用經典動態光散射(90°),包含...
公司簡介
使用我們的技術可以測量顆粒粒度、形狀和濃度、化學名稱、Zeta電位、蛋白質電荷、分子量、質量和構象、分子間相互作用和穩定性、元素濃度、晶體結構,元素及物相等參數。這些信息對于預測產品在使用過程中的表現、優化其性能,從而實現高效制造至關重要。作為思百吉集團成員,馬爾文帕納科(中國)共有8個辦事處,總部位于上海,其他辦事處包括北京、廣州、武漢、沈陽、西安、深圳和成都。上海建有1600多平方米的粒度,形貌,X射線,GPC等設備的專業實驗室,完善的實驗室設備可以提供客戶售前測樣及其售后培訓的配套服務與優...
News
X射線衍射儀是一種基于X射線與物質相互作用的儀器,通過衍射現象揭示物質的晶體結構和晶體學信息。它廣泛應用于材料科學、晶體學、結構分析和固體物理學等領域。其原理基于X射線與物質的相互作用。當X射線通過晶體或非晶體材料時,會發生衍射現象,即X射線的波動性導致它們在材料中被散射和干涉。X射線衍射儀利用探測器記錄衍射X射線的強度和角度信息,并通過衍射圖樣的分析,推斷出物質的晶體結構和晶體學參數。X射線衍射儀的主要作用:1、物相分析:能夠區分晶體和非晶體物質,并通過比較未知樣品的衍射數...
工業衍射儀是一種重要的科學實驗儀器,基于光的衍射現象,當光通過物體表面或穿過物體時,會發生衍射現象,即光波的傳播方向發生偏轉。工業衍射儀利用這種現象來研究材料的晶體結構。它通常使用單色光源照射樣品,并通過衍射圖樣來分析樣品的晶體結構。衍射圖樣是由光波在樣品中的衍射產生的干涉圖案,通過解析這些圖案可以獲得材料的晶格參數、晶體結構等信息。工業衍射儀的操作步驟:1、開機準備檢查設備狀態:確保X射線衍射儀的設備狀態良好,各部件無損壞。開啟電源:依次打開墻壁水冷、XRD電源空氣開關,按...
在本系列的前兩篇推文里我們介紹了馬爾文帕納科落地式X射線衍射儀進行同類樣品自動例行分析的“利器”——APP(AutomaticProcessingProgram)軟件(詳見《系列(一):APP介紹及實例》)并演示了APP與HighScorePlus組隊實現石墨化度自動分析(詳見《系列(二):APP與HighScorePlus配合實現自動分析》),本期我們再來看看XRD殘余應力分析軟件Stress與APP是如何打配合的。01簡介Stress軟件是馬爾文帕納科專業的XRD殘余應力...
基于GCI技術的WAVE分子互作分析儀通過一次實驗,可以快速、準確、可靠的獲取一整套描述分子間相互作用的信息,包括并不限于結合有無、結合特異性、描述結合強弱的親和力KD或鍵合常數KA、描述結合快慢與穩定性的動力學常數(結合速率常數ka與解離速率常數kd)等。下面我們將為您介紹WAVE系統所具有的突破傳統檢測方式的最新技術,以及一些典型應用,為您的設備選型提供借鑒和參考。光柵耦合干涉技術(Grating-CoupledInterferometry,GCI)是近年發展起來的、高靈...
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